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描述：Asahi-spectra朝日分光光學(xué)鍍膜測(cè)厚儀這是一種光譜膜厚監(jiān)測(cè)監(jiān)測(cè)器，用于監(jiān)測(cè)單色光氣相沉積過程中基板光強(qiáng)度的變化。 此外，還用于本公司的氣相沉積設(shè)備，作為氣相沉積部件制造商，在充滿專業(yè)知識(shí)的膜厚監(jiān)測(cè)設(shè)備中完成。
產(chǎn)品型號(hào)：OMD-1000廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2025-09-07訪問量：721標(biāo)題：Asahi-spectra朝日分光光學(xué)鍍膜測(cè)厚儀
產(chǎn)品概述
| 品牌 | Asahi Spectra/日本 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 是否可提供報(bào)關(guān)單 | 是 | 貨期 | 備庫銷售，現(xiàn)貨 |
| 可售賣地 | 全國 |
什么是OMD-1000？
這是一種光譜膜厚監(jiān)測(cè)監(jiān)測(cè)器，用于監(jiān)測(cè)單色光氣相沉積過程中基板光強(qiáng)度的變化。 此外，還用于本公司的氣相沉積設(shè)備，作為氣相沉積部件制造商，在充滿專業(yè)知識(shí)的膜厚監(jiān)測(cè)設(shè)備中完成。
小葉傳統(tǒng)型號(hào)具有濾光片式波長選擇，但新產(chǎn)品采用了我們久經(jīng)考驗(yàn)的光譜儀，現(xiàn)在可以選擇任何波長。
薄膜厚度變化的信號(hào)從電壓輸出變?yōu)榕c個(gè)人計(jì)算機(jī)兼容的數(shù)字輸出，控制機(jī)構(gòu)由個(gè)人計(jì)算機(jī)的命令控制，而不是手動(dòng)操作。 此外，通過I/F直接控制與個(gè)人電腦相連的膜厚儀本體，沒有像其他制造商那樣的控制器，是一個(gè)非常緊湊的系統(tǒng)。
集成光譜儀的緊湊型設(shè)計(jì)
提高抗噪性，實(shí)現(xiàn)可靠的膜厚監(jiān)測(cè)（靜電放電試驗(yàn)?zāi)蛪?plusmn;5kV）
可通過 PC 命令自動(dòng)控制
控制器內(nèi)置于接收器本體中，實(shí)現(xiàn)高性價(jià)比。
它連接到氣相沉積設(shè)備上，并監(jiān)控膜厚。
它可以如右圖所示安裝。
反射式監(jiān)測(cè)
透射式監(jiān)控
（泛光燈彎曲）
透射式監(jiān)控
（直接連接到泛光燈）
受光器
泛光燈
電源箱
散裝法蘭
* 包含在反光鏡盒中
反光鏡盒
透射鏡盒
| 型式 | OMD-1000型 |
| 光譜儀類型 | 車爾尼-特納單色 |
| 波長范圍 | 保修范圍：380~900nm工作 范圍：350~1100nm |
| 波長分辨率 | 狹縫 0.5mm：4.2nm [546nm] 狹縫 1.0mm：8.3nm [546nm] |
| 波長精度 | ±1.0納米 |
| 最小波長饋電 | 0.1納米 |
| 外部控制 | RS232C接口 |
| 外部輸出端子 | DC0~2V （滿量程） |
| 采樣間隔 | 100ms以上 |
| 靜電放電試驗(yàn)?zāi)蛪?/td> | ±5 kV（實(shí)際 8 kV） |
| 光源 | 12V100W鹵素?zé)?/td> |
| 光量安定性 | ±0.1%/h 以下 |
| 輸入電壓 | AC100V 50/60赫茲 |
| 允許輸入電壓 | 交流85~132V |
| 視在功率 | 340VA以下 |
| 使用環(huán)境 | 溫度 10～35℃ 濕度 20～80％ |
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